Растровый сканирующий электронный микроскоп Jeol JCM-6000 Neoscope II c блоком энергодисперсионного рентгеноспектрального (элементного) анализа

Назначение: предназначен для изучения небольших образцов с субмикронным разрешением для получения высококачественных микрофотографий шлифов и изломов, анализа однородности различных сплавов и покрытий, локального элементного анализа состава различных металлических и неметаллических материалов и включений

Основные технические характеристики

Увеличение (в пересчете на отпечаток 128 мм x 96 мм) Вторичные электроны: x10 - x60 000
Обратно-рассеянные электроны: x10 - x30 000
Режимы наблюдения Вторичные электроны
Обратно-рассеянные электроны
Ускоряющее напряжение Вторичные электроны: 5 кВ, 10 кВ, 15 кВ (три режима)
Обратно-рассеянные электроны: 10 кВ, 15 кВ (два режима)
Электронная пушка Компактная электронная пушка с катодом и встроенным цилиндром Вельнета
Предметный столик Ручное управление по осям X и Y
Диапазон перемещений: X: 35 мм, Y: 35 мм
Максимальный размер образца 70 мм в диаметре и 50 мм в высоту
Вакуумная система Полностью автоматизирована:
Турбомолекулярный насос 1 шт.
Форвакуумный ротационный насос 1 шт.
Низковакуумный режим Доступен
Приставки Энергодисперсионный (EDX) спектрометр

Разделы

01 Наука в ТГУ 02 Научно-инновационная деятельность 03 Научно-исследовательский институт прогрессивных технологий (НИИПТ) 04 Направления сотрудничества 05 Отдел аспирантуры и докторантуры 06 Экспортный контроль 07 Научные журналы 08 Учёные пишут 09 Научно-исследовательская политика 10 Контакты подразделения научно-инновационной деятельности 11 Объекты интеллектуальной собственности 12 Диссертационные советы