Рентгеновский дифрактометр Shimadzu Maxima XRD-7000S

Назначение: предназначен для проведения рентгенофазового (рентгенодифракционного) анализа металлов, сплавов, керамических материалов, покрытий и др. Позволяет определять качественный и количественный фазовый состав, а также степень кристалличности (долю аморфной фазы) материала; тип и параметры кристаллической решетки, уровень остаточных микронапряжений II и III рода, размеры и текстуру кристаллитов материала;  и решать другие аналитические, технологические и научно-исследовательские задачи в области физического материаловедения

Основные технические характеристики:

• Метод сканирования: дифракция рентгеновского излучения
• Рентгенооптическая схема фокусировки: Θ-2Θ (по Бреггу-Брентано); GIXRD
• Материала анода рентгеновской трубки: Cu (Long Fine Focus – LFF, длиннофокусная трубка 2,2 кВт);- Размер фокуса рентгеновской трубки: 0.4 х 12 мм
• Максимальное ускоряющие напряжения: 60 кВ (шаг изменения 1 кВ)
• Максимальный анодный ток: 80 мА (шаг изменения 1 мА)
• Защита: превышения мощности, перегрузок по току и напряжению
• Тип гониометра: вертикальный Θ-Θ
• Радиус гониометра: 200-275 мм
• Максимальные размеры образца: 400 х 550 х 400 мм
• Диапазон углов сканирования: от -12 до плюс 164° по 2Θ
• Минимальный шаг сканирования: 0,0001 или 0,0002° по 2Θ
• Скорость сканирования: 0,1 – 100 °/мин по 2Θ
• Режимы сканирования: непрерывное сканирование, пошаговое сканирование, калибровка, позиционирование, осцилляция по оси Θ
• Тип детектора:  сцинцилляционный счетчик–монокристалл  NaI(Ta)
• Скорость счета квантов РИ: 100000 имп/с
• Время измерения шага: 0,1 – 1000 сек
• Приставки: для регистрации микродифракционного отражения MDA-1101;  для исследований тонких пленок THA-1101, монохроматор для рентгеновской трубки, база данных порошковых дифрактограмм ICDD PDF-2