Размер:
A A A
Цвет: C C C
Изображения Вкл. Выкл.
Обычная версия сайта
+7 8482 54-64-51 (приёмная проректора по научно-инновационной деятельности)

Оборудование

 

Сканирующий конфокальный лазерный микроскоп Olympus LEXT OLS4000 Сканирующий конфокальный лазерный микроскоп Olympus LEXT OLS4000
Метрологическая система бесконтактного определения геометрических параметров, прецизионной топографии поверхности, измерения шероховатости и волнистости поверхности образца, основанном на анализе 2D и 3D сканов рельефа поверхности.

Сканирующий электронный микроскоп Carl Zeiss Sigma Сканирующий электронный микроскоп Carl Zeiss Sigma
Электронный микроскоп Sigma предназначен для исследования морфологии и химического состава материалов природного и искусственного происхождения с высокой разрешающей способностью.