Микроскопические и структурные исследования

Оборудование, предназначенное для наблюдения, регистрации и измерения (оценки) микроскопического строения объектов исследования, размеры и время зарождения (существования) которых находятся за пределами разрешающей способности глаза.

Инвертированный металлографический микроскоп Zeiss Axiovert 40 МАТ
Стереоскопический микроскоп Zeiss Stemi 2000
Сканирующий конфокальный лазерный микроскоп Olympus LEXT OLS4000
Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Sigma
Оптический профилометр Zygo NewView 7100
Сканирующий зондовый микроскоп Solver NEXT
Рентгеновский дифрактометр Shimadzu Maxima XRD-7000S
Модернизированный рентгеновский дифрактометр ДРОН-2.0
Система анализа изображений uniDAC
Высокоскоростная цифровая видеокамера Photron FASTCAM SA3 120K-M2
Тепловизионная система FLIR SC7700М
Установка ионного травления Hitachi IM4000 Plus
Вакуумная напылительная установка магнетронного типа GSEM G20
Вакуумный универсальный пост ВУП-4

Разделы

Премия Правительства РФ в области качества
Лауреат 2019
Конкурс «Проектный Олимп»
I место 2019