Размер:
A A A
Цвет: C C C
Изображения Вкл. Выкл.
Обычная версия сайта

Оборудование

 

Сканирующий конфокальный лазерный микроскоп Olympus LEXT OLS4000 Сканирующий конфокальный лазерный микроскоп Olympus LEXT OLS4000
Метрологическая система бесконтактного определения геометрических параметров, прецизионной топографии поверхности, измерения шероховатости и волнистости поверхности образца, основанном на анализе 2D и 3D сканов рельефа поверхности.

Сканирующий электронный микроскоп Carl Zeiss Sigma Сканирующий электронный микроскоп Carl Zeiss Sigma
Электронный микроскоп Sigma предназначен для исследования морфологии и химического состава материалов природного и искусственного происхождения с высокой разрешающей способностью.